檢測代碼對于電腦故障檢修有重要意義

C0：開機檢測代碼顯示C0，這為主板BIOS故障或者主板芯片已壞

C1：C1本為檢測是否內(nèi)存通過，停止即為不過，但是主板也有故障嫌疑的

C3：內(nèi)存問題D3、D4：此都為內(nèi)存問題，但是主板內(nèi)存插槽也有可能，多數(shù)出在AMD的板上，這時可以把CPU風(fēng)扇拿出來，上緊CPU再進行通電測試

25： 25為顯卡或插槽問題，一般清過主板BIOS就能亮機。不然就換過顯卡

26或者2b：亮機，不亮機考慮顯卡

31：顯卡或插槽問題

45：顯卡問題

00：剛開機就直接到00或者FF是CPU或者主板芯片壞

FF：剛開機就直接到00或者FF是CPU或者主板芯片壞,也可能是供電不足(20樓提出,表示感謝)

13：在AMI BIOS13是正常

75：BIOS故障，重設(shè)BIOS即可

00：開機代碼轉(zhuǎn)到最后顯示為這個為正常已經(jīng)亮機

FF：開機代碼轉(zhuǎn)到最后顯示為這個為正常已經(jīng)亮機

05 如果不斷重復(fù)制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。 已確定軟復(fù)位／通電；即將啟動ROM。 DMA初如準備正在進行或者失靈。

06 使電路片作初始準備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁面寄存器和CMOS停機字節(jié)。 已啟動ROM計算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否清除。 DMA初始頁面寄存器讀／寫測試正在進行或失靈。

07 處理器測試2，核實CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除，向鍵盤發(fā)出BAT（基本保證測試）命令。

08 使CMOS計時器作初始準備，正常的更新計時器的循環(huán)。 已向鍵盤發(fā)出BAT命令，即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗正在進行或失靈。

09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過。 核實鍵盤的基本保證測試，接著核實鍵盤命令字節(jié)。 第一個64K RAM測試正在進行。

0A 使視頻接口作初始準備。 發(fā)出鍵盤命令字節(jié)代碼，即將寫入命令字節(jié)數(shù)據(jù)。 第一個64K RAM芯片或數(shù)據(jù)線失靈，移位。

0B 測試8254通道0。 寫入鍵盤控制器命令字節(jié)，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖／解鎖命令。 第一個64K RAM奇／偶邏輯失靈。

0C 測試8254通道1。 鍵盤控制器引腳23、24已封鎖／解鎖；已發(fā)出NOP命令。 第一個64K RAN的地址線故障。

0D 1、檢查CPU速度是否與系統(tǒng)時鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設(shè)置。3、視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。 已處理NOP命令；接著測試CMOS停開寄存器。 第一個64K RAM的奇偶性失靈

0E 測試CMOS停機字節(jié)。 CMOS停開寄存器讀／寫測試；將計算CMOS檢查總和。 初始化輸入／輸出端口地址。

0F 測試擴展的CMOS。 已計算CMOS檢查總和寫入診斷字節(jié)；CMOS開始初始準備。 .

10 測試DMA通道0。 CMOS已作初始準備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時間作初始準備。 第一個64K RAM第0位故障。

11 測試DMA通道1。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一個64DK RAM第1位故障。

12 測試DMA頁面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2；即將視頻顯示器并使端口B作初始準備。 第一個64DK RAM第2位故障。

13 測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用，端口B已作初始準備；即將開始電路片初始化／存儲器自動檢測。 第一個64DK RAM第3位故障。

14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化／存儲器處自動檢測結(jié)束；8254計時器測試即將開始。 第一個64DK RAM第4位故障。

15 測試開頭64K的系統(tǒng)存儲器。 第2通道計時器測試了一半；8254第2通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第5位故障。

16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計時器測試結(jié)束；8254第1通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第6位故障。

17 調(diào)準視頻輸入／輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計時器測試結(jié)束；8254第0通道計時器即將完成測試。 第一個64DK RAM第7位故障。

18 測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過，由可繞過。 第0通道計時器測試結(jié)束；即將開始更新存儲器。 第一個64DK RAM第8位故障。

19 測試第1通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 已開始更新存儲器，接著將完成存儲器的更新。 第一個64DK RAM第9位故障。

1A 測試第2通道的中斷控制器（8259）屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線路，即將檢查15微秒通／斷時間。 第一個64DK RAM第10位故障。

1B 測試CMOS電池電平。 完成存儲器更新時間30微秒測試；即將開始基本的64K存儲器測試。 第一個64DK RAM第11位故障。

1C 測試CMOS檢查總和。 . 第一個64DK RAM第12位故障。

1D 調(diào)定CMOS配置。 . 第一個64DK RAM第13位故障。

1E 測定系統(tǒng)存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。 . 第一個64DK RAM第14位故障。

1F 測試64K存儲器至最高640K。 . 第一個64DK RAM第15位故障。

20 測量固定的8259中斷位。 開始基本的64K存儲器測試；即將測試地址線。 從屬DMA寄存器測試正在進行或失靈。

21 維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶性或輸入／輸出通道的檢查）。 通過地址線測試；即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進行或失靈。

22 測試8259的中斷功能。 結(jié)束觸發(fā)奇偶性；將開始串行數(shù)據(jù)讀／寫測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進行或失靈。

23 測試保護方式8086虛擬方式和8086頁面方式。 基本的64K串行數(shù)據(jù)讀／寫測試正常；即將開始中斷矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)。 從屬中斷屏蔽存器測試正在進行或失靈。

24 測定1MB以上的擴展存儲器。 矢量初始化之前的任何調(diào)節(jié)完成，即將開始中斷矢量的初始準備。 設(shè)置ES段地址寄存器注冊表到內(nèi)存高端。

25 測試除頭一個64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準備；將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始讀出8042的輸入／輸出端口。 裝入中斷矢量正在進行或失靈。

26 測試保護方式的例外情況。 讀出8042的輸入／輸出端口；即將為旋轉(zhuǎn)式斷續(xù)開始使全局數(shù)據(jù)作初始準備。 開啟A20地址線；使之參入尋址。

27 確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。 全1數(shù)據(jù)初始準備結(jié)束；接著將進行中斷矢量之后的任何初始準備。 鍵盤控制器測試正在進行或失靈。

28 確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤控制器。 完成中斷矢量之后的初始準備；即將調(diào)定單色方式。 CMOS電源故障／檢查總和計算正在進行。

29 . 已調(diào)定單色方式，即將調(diào)定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進行。

2A 使鍵盤控制器作初始準備。 已調(diào)定彩色方式，即將進行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內(nèi)存。

2B 使磁碟驅(qū)動器和控制器作初始準備。 觸發(fā)奇偶性結(jié)束；即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調(diào)節(jié)。 屏幕存儲器測試正在進行或失靈。

2C 檢查串行端口，并使之作初始準備。 完成視頻ROM控制之前的處理；即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕初始準備正在進行或失靈。

2D 檢測并行端口，并使之作初始準備。 已完成任選的視頻ROM控制，即將進行視頻ROM回復(fù)控制之后任何其他處理的控制。 屏幕回掃測試正在進行或失靈。

2E 使硬磁盤驅(qū)動器和控制器作初始準備。 從視頻ROM控制之后的處理復(fù)原；如果沒有發(fā)現(xiàn)EGA／VGA就要進行顯示器存儲器讀／寫測試。 檢測視頻ROM正在進行。

2F 檢測數(shù)學(xué)協(xié)處理器，并使之作初始準備。 沒發(fā)現(xiàn)EGA／VGA；即將開始顯示器存儲器讀／寫測試。 .

30 建立基本內(nèi)存和擴展內(nèi)存。 通過顯示器存儲器讀／寫測試；即將進行掃描檢查。 認為屏幕是可以工作的。

31 檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準備。 顯示器存儲器讀／寫測試或掃描檢查失敗，即將進行另一種顯示器存儲器讀／寫測試。 單色監(jiān)視器是可以工作的。

32 對主板上COM／LTP／FDD／聲音設(shè)備等I／O芯片編程使之適合設(shè)置值。 通過另一種顯示器存儲器讀／寫測試；卻將進行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監(jiān)視器（40列）是可以工作的。

33 . 視頻顯示器檢查結(jié)束；將開始利用調(diào)節(jié)開關(guān)和實際插卡檢驗顯示器的關(guān)型。 彩色監(jiān)視器（80列）是可以工作的。

34 . 已檢驗顯示器適配器；接著將調(diào)定顯示方式。 計時器滴答聲中斷測試正在進行或失靈。

35 . 完成調(diào)定顯示方式；即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 停機測試正在進行或失靈。

36 . 已檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)；即將調(diào)定通電信息的游標。 門電路中A－20失靈。

37 . 識別通電信息的游標調(diào)定已完成；即將顯示通電信息。 保護方式中的意外中斷。

38 . 完成顯示通電信息；即將讀出新的游標位置。 RAM測試正在進行或者地址故障＞FFFFH。

39 . 已讀出保存游標位置，即將顯示引用信息串。 .

3A . 引用信息串顯示結(jié)束；即將顯示發(fā)現(xiàn)信息。 間隔計時器通道2測試或失靈。

3B 用OPTI電路片（只是486）使輔助超高速緩沖存儲器作初始準備。 已顯示發(fā)現(xiàn)＜ESC＞信息；虛擬方式，存儲器測試即將開始。 按日計算的日歷時鐘測試正在進行或失靈。

3C 建立允許進入CMOS設(shè)置的標志。 . 串行端口測試正在進行或失靈。

3D 初始化鍵盤／PS2鼠標／PNP設(shè)備及總內(nèi)存節(jié)點。 . 并行端口測試正在進行或失靈。

3E 嘗試打開L2高速緩存。數(shù)學(xué)協(xié)處理器測試正在進行或失靈。

40 . 已開始準備虛擬方式的測試；即將從視頻存儲器來檢驗。 調(diào)整CPU速度，使之與外圍時鐘精確匹配。

41 中斷已打開，將初始化數(shù)據(jù)以便于0：0檢測內(nèi)存變換（中斷控制器或內(nèi)存不良） 從視頻存儲器檢驗之后復(fù)原；即將準備描述符表。 系統(tǒng)插件板選擇失靈。

42 顯示窗口進入SETUP。 描述符表已準備好；即將進行虛擬方式作存儲器測試。 擴展CMOS RAM故障。

43 若是即插即用BIOS，則串口、并口初始化。 進入虛擬方式；即將為診斷方式實現(xiàn)中斷。 .

44 . 已實現(xiàn)中斷（如已接通診斷開關(guān)；即將使數(shù)據(jù)作初始準備以檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)。） BIOS中斷進行初始化。

45 初始化數(shù)學(xué)協(xié)處理器。 數(shù)據(jù)已作初始準備；即將檢查存儲器在0：0返轉(zhuǎn)以及找出系統(tǒng)存儲器的規(guī)模。 .

46 . 測試存儲器已返回；存儲器大小計算完畢，即將寫入頁面來測試存儲器。 檢查只讀存儲器ROM版本。

47 . 即將在擴展的存儲器試寫頁面；即將基本640K存儲器寫入頁面。 .

48 . 已將基本存儲器寫入頁面；即將確定1MB以上的存儲器。 視頻檢查，CMOS重新配置。

49 . 找出1BM以下的存儲器并檢驗；即將確定1MB以上的存儲器。 .

4A . 找出1MB以上的存儲器并檢驗；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 進行視頻的初始化。

4B . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)的檢驗結(jié)束，即將檢查＜ESC＞和為軟復(fù)位清除1MB以上的存儲器。 .

4C . 清除1MB以上的存儲器(軟復(fù)位)即將清除1MB以上的存儲器. 屏蔽視頻BIOS ROM。.

4D 已清除1MB以上的存儲器（軟復(fù)位）；將保存存儲器的大小。 .

4E 若檢測到有錯誤；在顯示器上顯示錯誤信息，并等待客戶按＜F1＞鍵繼續(xù)。 開始存儲器的測試：（無軟復(fù)位）；即將顯示第一個64K存儲器的測試。 顯示版權(quán)信息。

4F 讀寫軟、硬盤數(shù)據(jù)，進行DOS引導(dǎo)。 開始顯示存儲器的大小，正在測試存儲器將使之更新；將進行串行和隨機的存儲器測試。 .

50 將當前BIOS監(jiān)時區(qū)內(nèi)的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存儲器測試；即將高速存儲器的大小以便再定位和掩蔽。 將CPU類型和速度送到屏幕。

51 . 測試1MB以上的存儲器。 .

52 所有ISA只讀存儲器ROM進行初始化，最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。 已完成1MB以上的存儲器測試；即將準備回到實址方式。 進入鍵盤檢測。

53 如果不是即插即用BIOS，則初始化串口、并口和設(shè)置時種值。 保存CPU寄存器和存儲器的大小，將進入實址方式。

54 . 成功地開啟實址方式；即將復(fù)原準備停機時保存的寄存器。

55 . 寄存器已復(fù)原，將停用門電路A－20的地址線。 .

56 . 成功地停用A－20的地址線；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 鍵盤測試結(jié)束。

57 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半；繼續(xù)進行。 .

58 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將清除發(fā)現(xiàn)＜ESC＞信息。 非設(shè)置中斷測試。

59 . 已清除＜ESC＞信息；信息已顯示；即將開始DMA和中斷控制器的測試。 .

5A . . 顯示按“F2”鍵進行設(shè)置。

5B . . 測試基本內(nèi)存地址。

5C . . 測試640K基本內(nèi)存。

60 設(shè)置硬盤引導(dǎo)扇區(qū)病毒保護功能。 通過DMA頁面寄存器的測試；即將檢驗視頻存儲器。 測試擴展內(nèi)存。

61 顯示系統(tǒng)配置表。 視頻存儲器檢驗結(jié)束；即將進行DMA＃1基本寄存器的測試。 .

62 開始用中斷19H進行系統(tǒng)引導(dǎo)。 通過DMA＃1基本寄存器的測試；即將進行DMA＃2寄存器的測試。 測試擴展內(nèi)存地址線。

63 . 通過DMA＃2基本寄存器的測試；即將檢查BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)。 .

64 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查了一半，繼續(xù)進行。 .

65 . BIOS ROM數(shù)據(jù)區(qū)檢查結(jié)束；將把DMA裝置1和2編程。 .

66 . DMA裝置1和2編程結(jié)束；即將使用59號中斷控制器作初始準備。 Cache注冊表進行優(yōu)化配置。

67 . 8259初始準備已結(jié)束；即將開始鍵盤測試。 .

68 . . 使外部Cache和CPU內(nèi)部Cache都工作。

6A . . 測試并顯示外部Cache值。

6C . . 顯示被屏蔽內(nèi)容。

6E . . 顯示附屬配置信息。

70 . . 檢測到的錯誤代碼送到屏幕顯示。

72 . . 檢測配置有否錯誤。

74 . . 測試實時時鐘。

76 . . 掃查鍵盤錯誤。

7A . . 鎖鍵盤。

7C . . 設(shè)置硬件中斷矢量。

7E . . 測試有否安裝數(shù)學(xué)處理器。

80 . 鍵盤測試開始，正在清除和檢查有沒有鍵卡住，即將使鍵盤復(fù)原。 關(guān)閉可編程輸入／輸出設(shè)備。

81 . 找出鍵盤復(fù)原的錯誤卡住的鍵；即將發(fā)出鍵盤控制端口的測試命令。 .

82 . 鍵盤控制器接口測試結(jié)束，即將寫入命令字節(jié)和使循環(huán)緩沖器作初始準備。 檢測和安裝固定RS232接口（串口）。

83 . 已寫入命令字節(jié)，已完成全局數(shù)據(jù)的初始準備；即將檢查有沒有鍵鎖住。 .

84 . 已檢查有沒有鎖住的鍵，即將檢查存儲器是否與CMOS失配。 檢測和安裝固定并行口。

85 . 已檢查存儲器的大小；即將顯示軟錯誤和口令或旁通安排。 .

86 . 已檢查口令；即將進行旁通安排前的編程。 重新打開可編程I／O設(shè)備和檢測固定I／O是否有沖突。

87 . 完成安排前的編程；將進行CMOS安排的編程。 .

88 . 從CMOS安排程序復(fù)原清除屏幕；即將進行后面的編程。 初始化BIOS數(shù)據(jù)區(qū)。

89 . 完成安排后的編程；即將顯示通電屏幕信息。 .

8A . 顯示頭一個屏幕信息。 進行擴展BIOS數(shù)據(jù)區(qū)初始化。

8B . 顯示了信息：即將屏蔽主要和視頻BIOS。 .

8C . 成功地屏蔽主要和視頻BIOS，將開始CMOS后的安排任選項的編程。 進行軟驅(qū)控制器初始化。

8D . 已經(jīng)安排任選項編程，接著檢查滑了鼠和進行初始準備。 .

8E . 檢測了滑鼠以及完成初始準備；即將把硬、軟磁盤復(fù)位。 .

8F . 軟磁盤已檢查，該磁碟將作初始準備，隨后配備軟磁碟。 .

90 . 軟磁碟配置結(jié)束；將測試硬磁碟的存在。 硬盤控制器進行初始化。

91 . 硬磁碟存在測試結(jié)束；隨后配置硬磁碟。 局部總線硬盤控制器初始化。

92 . 硬磁碟配置完成；即將檢查BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)。 跳轉(zhuǎn)到用戶路徑2。

93 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)已檢查一半；繼續(xù)進行。 .

94 . BIOS ROM的數(shù)據(jù)區(qū)檢查完畢，即調(diào)定基本和擴展存儲器的大小。 關(guān)閉A－20地址線。

95 . 因應(yīng)滑鼠和硬磁碟47型支持而調(diào)節(jié)好存儲器的大??；即將檢驗顯示存儲器。 .

96 . 檢驗顯示存儲器后復(fù)原；即將進行C800：0任選ROM控制之前的初始準備。 “ES段”注冊表清除。

97 . C800：0任選ROM控制之前的任何初始準備結(jié)束，接著進行任選ROM的檢查及控制。 .

98 . 任選ROM的控制完成；即將進行任選ROM回復(fù)控制之后所需的任何處理。 查找ROM選擇。

99 . 任選ROM測試之后所需的任何初始準備結(jié)束；即將建立計時器的數(shù)據(jù)區(qū)或打印機基本地址。 .

9A . 調(diào)定計時器和打印機基本地址后的返回操作；即調(diào)定RS－232基本地址。 屏蔽ROM選擇。

9B . 在RS－232基本地址之后返回；即將進行協(xié)處理器測試之初始準備。 .

9C . 協(xié)處理器測試之前所需初始準備結(jié)束；接著使協(xié)處理器作初始準備。 建立電源節(jié)能管理。

9D . 協(xié)處理器作好初始準備，即將進行協(xié)處理器測試之后的任何初始準備。 .

9E . 完成協(xié)處理器之后的初始準備，將檢查擴展鍵盤，鍵盤識別符，以及數(shù)字鎖定。 開放硬件中斷。

9F . 已檢查擴展鍵盤，調(diào)定識別標志，數(shù)字鎖接通或斷開，將發(fā)出鍵盤識別命令。 .

A0 . 發(fā)出鍵盤識別命令；即將使鍵盤識別標志復(fù)原。 設(shè)置時間和日期。

A1 . 鍵盤識別標志復(fù)原；接著進行高速緩沖存儲器的測試。 .

A2 . 高速緩沖存儲器測試結(jié)束；即將顯示任何軟錯誤。 檢查鍵盤鎖。

A3 . 軟錯誤顯示完畢；即將調(diào)定鍵盤打擊的速率。 .

A4 . 調(diào)好鍵盤的打擊速率，即將制訂存儲器的等待狀態(tài)。 鍵盤重復(fù)輸入速率的初始化。

A5 . 存儲器等候狀態(tài)制定完畢；接著將清除屏幕。 .

A6 . 屏幕已清除；即將啟動奇偶性和不可屏蔽中斷。 .

A7 . 已啟用不可屏蔽中斷和奇偶性；即將進行控制任選的ROM在E000：0之所需的任何初始準備。 .

A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始準備結(jié)束，接著將控制E000：0之后所需的任何初始準備。 清除“F2”鍵提示。

A9 . 從控制E000：0 ROM返回，即將進行控制E000：0任選ROM之后所需的任何初始準備。 .

AA . 在E000：0控制任選ROM之后的初始準備結(jié)束；即將顯示系統(tǒng)的配置。 掃描“F2”鍵打擊。

AC . . 進入設(shè)置.

AE . . 清除通電自檢標志。

B0 . . 檢查非關(guān)鍵性錯誤。

B2 . . 通電自檢完成準備進入操作系統(tǒng)引導(dǎo)。

B4 . . 蜂鳴器響一聲。

B6 . . 檢測密碼設(shè)置（可選）。

B8 . . 清除全部描述表。

BC . . 清除校驗檢查值。

BE 程序缺省值進入控制芯片，符合可調(diào)制二進制缺省值表。 . 清除屏幕（可選）。

BF 測試CMOS建立值。 . 檢測病毒，提示做資料備份。

C0 初始化高速緩存。 . 用中斷19試引導(dǎo)。

C1 內(nèi)存自檢。 . 查找引導(dǎo)扇區(qū)中的“55”“AA”標記。

C3 第一個256K內(nèi)存測試。 . .

C5 從ROM內(nèi)復(fù)制BIOS進行快速自檢。 . .

C6 高速緩存自檢。 . .

CA 檢測Micronies超速緩沖存儲器（如果存在），并使之作初始準備。 . .

CC 關(guān)斷不可屏蔽中斷處理器。 . .

EE 處理器意料不到的例外情況。 . .

FF 給予INI19引導(dǎo)裝入程序的控制，主板OK。

測試卡代碼的檢修思路 c0 c1 d3 c3 c5 b0 25 0b

C0代碼的維修

A、CPU座接觸不良導(dǎo)致的

B、主板超頻

C、BIOS程序不對

D、I/O芯片損壞

E、南橋芯片損壞

F、CPU的控制總線出錯，進行打阻值，有無短路或者開路。

G、北橋芯片壞

C1或者D3代碼的檢修

A、BIOS程序不對，BIOS座接觸是否良好

B、內(nèi)存槽有無機械損壞或者氧化

C、內(nèi)存供電是否正常

D、內(nèi)存槽與北橋之間的線路

E、I/O芯片損壞

F、南北橋虛焊，用手壓，同時RESET，有時候可能判斷出

G、北橋芯片壞

H、南橋芯片壞

I、CPU旁邊排阻是否損壞

J、PCB有斷線

C1到C3或C5循環(huán)跳變

A、BIOS程序不對

B、串口芯片損壞

C、I/O芯片損壞

D、南北橋芯片損壞

E、32.768晶振起振是否正常

B0代碼

A、測內(nèi)存的數(shù)據(jù)負載電壓

B、清CMOS

C、測北橋供電是否正常

D、北橋壞

E、北橋虛焊

25代碼

A、測試AGP核心供電

B、北橋供電

C、刷BIOS

D、北橋壞

走OD后不亮

A、測試PCI插槽之間的電阻和排阻

B、外頻、倍頻跳線

0B、31代碼

A、BIOS程序不對

B、I/O芯片損壞

C、南北橋損壞

D、主板是否與顯卡兼容

E、查北橋供電

F、PCB斷線、板上是否沾有導(dǎo)電物

G、顯卡插槽損壞

2D代碼

A、測試AGP的AD線

B、初始化IMTR信號

C、北橋供電不正?；蛘弑睒驌p壞

顯示2B代碼后不亮

A、刷新BIOS

B、時鐘發(fā)生器不良

C、清楚CMOS

D、北橋供電不正?；驌p壞

顯示50代碼

A、I/O損壞或者I/O壞

B、南橋供電不正?；蛘吣蠘驂?/p>

C、BIOS程序壞

D、北橋壞

顯示41代碼

A、BIOS程序損壞 刷新BIOS

B、PCB斷線

C、CPU損壞

D、內(nèi)存條質(zhì)量不佳

E、北橋接觸不良

BF、02代碼

A、清楚CMOS設(shè)置。

B、主板CMOS電路有問題。

6． 主板歇性故障檢修思路。

（1） 主板上灰塵大多。

（2） CMOS電池電壓不足。

（3） 南，北橋，CPU座虛焊。

（4） 主板供電或者供電濾波不良

（5） 晶體不良或其諧振電容不良。

（6） 電容鼓包或者電容不良。

（7） 電源IC壞。

（8） I/O壞。

（9） 南橋壞。

檢測代碼可以快速鎖定故障范圍